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【ポイント10倍】ケツト科学研究所 プローブ EP-100 [59947878]
商品詳細
《仕様》
●測定方式:電磁誘導式
●測定対象:磁性金属上の非磁性被膜
●測定範囲:0~2500μm
●測定精度:15μm未満±0.3μm、15μm以上1000μm未満±2%、1000μm以上±3%
●対応器種:L-500
《特長》
●膜厚計L-500用新開発プローブです。
●電磁式プローブ(磁性金属素地用)です。
●アプリケーションメモリを50本まで保存。
《仕様》
●測定方式:電磁誘導式
●測定対象:磁性金属上の非磁性被膜
●測定範囲:0~2500μm
●測定精度:15μm未満±0.3μm、15μm以上1000μm未満±2%、1000μm以上±3%
●対応器種:L-500
《特長》
●膜厚計L-500用新開発プローブです。
●電磁式プローブ(磁性金属素地用)です。
●アプリケーションメモリを50本まで保存。
●測定方式:電磁誘導式
●測定対象:磁性金属上の非磁性被膜
●測定範囲:0~2500μm
●測定精度:15μm未満±0.3μm、15μm以上1000μm未満±2%、1000μm以上±3%
●対応器種:L-500
《特長》
●膜厚計L-500用新開発プローブです。
●電磁式プローブ(磁性金属素地用)です。
●アプリケーションメモリを50本まで保存。
《仕様》
●測定方式:電磁誘導式
●測定対象:磁性金属上の非磁性被膜
●測定範囲:0~2500μm
●測定精度:15μm未満±0.3μm、15μm以上1000μm未満±2%、1000μm以上±3%
●対応器種:L-500
《特長》
●膜厚計L-500用新開発プローブです。
●電磁式プローブ(磁性金属素地用)です。
●アプリケーションメモリを50本まで保存。
【ポイント10倍】ケツト科学研究所 プローブ EP-100
【在庫数について】
商品ページに表示されている在庫数は通販サイト上の在庫数となります。各店舗の在庫数とは異なりますのでご注意ください。